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控制电路损坏:
   是指硬盘的电路板中的某一部分线路断路或短路,或者某些电气元件或IC芯片损坏等等,导致硬盘在通电后盘片不能正常起转,或者起转后磁头不能正确寻道等。
磁头组件损坏:

   主要指硬盘中磁头组件的某部分被损坏,造成部分或全部磁头无法正常读写的情况。磁头组件损坏的方式和可能性非常多,主要包括磁头磨损、磁头悬臂变形、磁线圈受损、移位等。

综合性损坏:
   主要是指因为一些微小的变化使硬盘产生的种种问题。有些是硬盘在使用过程中因为发热或者其他关系导致部分芯片老化;有些是硬盘在受到震动后,外壳或盘面或马达主轴产生了微小的变化或位移;有些是硬盘本身在设计方面就在散热、摩擦或结构上存在缺陷。种种的原因导致硬盘不稳定,经常丢数据或者出现逻辑错误,工作噪音大,读写速度慢,有时能正常工作但有时又不能正常工作等。

扇区物理性损坏:
   是指因为碰撞、磁头摩擦或其他原因导致磁盘盘面出现的物理性损坏,譬如划伤盘片、掉磁等。

开盘环境:

   根据研发部的实验表明:大约有95%左右的硬盘在空气中暴露10分钟以上会报废,大约有40%左右的硬盘在千级操作台暴露15分钟以上会报废。而如果将操作台放在千级超净间并形成局部百级环境,那么暴露时间在30分钟以内而导致的数据丢失比例可控制在1%以内。

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